XAFS for Everyone
Scott (Lehman College Calvin
Engels | 27-08-2026 | 444 pagina's
9780367345679
Paperback / softback
75,00
Nog niet beschikbaar, beschikbaar op 27/08/2026
Voorraad in de winkel
Tekst achterflap
This second edition now includes chapters on spatial and temporal resolution, alternative measurement modes including resonant inelastic x-ray scattering (RIXS) and high-energy resolution fluorescence detection (HERFD), and an expanded chapter on experimental design.
Details
| EAN : | 9780367345679 |
| Uitgever : | Van Ditmar Boekenimport B.V. |
| Publicatie datum : | 27-08-2026 |
| Uitvoering : | Paperback / softback |
| Taal/Talen : | Engels |
| Status : | Nog niet beschikbaar |
| Aantal pagina's : | 444 |