XAFS for Everyone
Scott (Lehman College Calvin
anglais | 27-08-2026 | 444 pages
9780367345679
Livre de poche
75,00
Pas encore disponible, disponible à partir du 27/08/2026
Couverture / Jaquette
This second edition now includes chapters on spatial and temporal resolution, alternative measurement modes including resonant inelastic x-ray scattering (RIXS) and high-energy resolution fluorescence detection (HERFD), and an expanded chapter on experimental design.
Détails
| Code EAN : | 9780367345679 |
| Editeur : | Van Ditmar Boekenimport B.V. |
| Date de publication : | 27-08-2026 |
| Format : | Livre de poche |
| Langue(s) : | anglais |
| Stock : | Pas encore disponible |
| Nombre de pages : | 444 |